第 53 巻 第 2 号
2004 年 2 月
全反射蛍光X線分析用シリコンウェハー標準試料の開発と半導体表面汚染分析への応用
森 良弘・上村賢一 61
ガラスキャピラリー濃縮法を利用する亜鉛のフローインジェクション吸光光度定量
渡辺邦洋・山元良馬・板垣昌幸 71
市販の銀粉を用いる近赤外励起フーリエ変換−表面増強ラマン散乱スペクトルの測定
内田太郎・樋口精一郎 79
野崎 修・宗末眞徳・河本裕子 85
誘導結合プラズマ三次元四重極質量分析装置を用いる琵琶湖湖水及び琵琶湖周辺河川水中のウラン及び主成分元素の定量
坂元秀之・山本和子・白崎俊浩・山崎秀夫 91
小林仁美・佐藤敬一・澤田 清 101
機器中性子放射化分析法によるヒト尿標準物質中の微量元素の定量
鈴木章悟・岡田往子・平井昭司 109
イオン交換分離/黒鉛炉原子吸光法による高純度銅中微量鉄の定量
横井雅弘・石山 高・田中龍彦 113
小林寛和・中村栄子 119
乾燥のり中の元素含量とクロロフィル含量指標SPAD値との相関性
長濱敏子・張 経華・大脇博樹・石橋康弘・藤田雄二・山崎素直 123
酸化物超伝導関連物質LixKCa2Na2Nb5O16の誘導結合プラズマ発光分光分析のための試料分解法
石黒三岐雄 127
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