第50回記念機器分析講習会

主催　日本分析化学会関東支部

共催　日本化学会

後援　日本分析機器工業会

 

 

第１コ－ス ：ＩＣＰ発光分析およびＩＣＰ質量分析の基礎と実際

 

　誘導結合プラズマ(ICP)発光分析法，ICP質量分析法を始めとする原子スペクトル・原子質量分析法は，高感度かつ迅速な微量元素定量方法としての地位を確立しており，電子材料などの先端材料，高純度物質，環境試料などの分析法として幅広い分野で多くの方に利用されています。本講習会では，当分野の第一線でご活躍されている先生方の講義を受講していただくとともに，受講生が実際に数種の試料について分析機器を用いて測定（前処理技術の習得も含む）を体得できるよう企画しました。本講習会で使用するテキストは、講習会で講義を行う先生方にご執筆いただいた「ICP発光分析・ICP質量分析の基礎と実際」（日本分析化学会関東支部編）を用います。既にご入手されている方は、執筆を担当された先生方に直接質問できますので理解を一層深めることができると思われます。

 

会　期　２００９年６月２５日（木）～２６日（金）

 

会　場　エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社〔東京都中央区新富2-15-5 RBM 築地ビル〕

　電話：03-6280-0070（代）

交通： ①東京メトロ有楽町線新富町駅より徒歩1分（5番出口利用）②東京メトロ日比谷線築地駅より徒歩4分（4番出口利用）③JR 京葉線，東京メトロ日比谷線八丁堀駅より徒歩8分（A3出口利用）

　　案内図　http://www.siint.com/maps/map01/map.html

 

日　程　第１日＜講義＞１０時００分～１７時００分

　　　　第２日＜実習＞９時３０分～１６時３０分

 

講　義

（1）各微量元素分析法の測定原理と最近の動向（ICP発光分析，ICP質量分析）

                                                                           （都立産業技術研究センター）上本道久

（2）半導体，セラミックスの分析                                                （㈱テルム）岡田　章

（3）高純度試薬の分析                                                              （関東化学㈱）井上達也

（4）食品の分析                                                   （(財)日本食品分析センター）阿部 孝

（5）河川水、底質の分析                                             （産業技術総合研究所）稲垣和三

（6）廃棄物の分析                                                              （国立環境研究所）貴田晶子

 

 

実　習

 

（１）　ICP発光分析装置（マルチ，半導体検出器）を用いた環境試料分析の実際：特に高マトリックス（鋼材、廃棄物等）の元素を分析する

　　　　　　　　　　（日産アーク）野呂純二

 

（2）　ICP発光分析装置（シーケンシャル）を用いた河川水分析の実際：特に河川水，底質中の微量元素を分析する

              　　　　　　　　　　　　　　　　　（産業技術総合研究所）稲垣和三

（3）　ICP質量分析装置を用いた高純度試料分析の実際：超純水，半導体など高純度物質中の極微元素を分析する

              　　　　　　　　　　（関東化学㈱）井上達也，（㈱テルム）岡田　章

 

受講料（テキスト代，昼食代を含む）　会員（共催学会会員を含む）35,000円，会員外

　　　40,000円。講義のみ：会員20,000円，会員外25,000円。参加費の払い戻しは致し

　　　ませんので，あらかじめご了承ください。

 

募集人員　40名，講義のみも可（定員になり次第締め切ります）

 

申込方法　同封の申込書に必要事項をご記入のうえ，FAXまたはE-mail にてお申し込

　　　みください。折り返し請求書，会場案内図等をお送りします。

 

申込先　〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2　五反田サンハイツ304号

　　　　　　　　　社団法人　日本分析化学会　関東支部機器分析講習会係

　　　　〔電話：03-3490-3351，FAX：03-3490-3572，E-mail：hm_tanaka@jsac.or.jp〕